新共用プロジェクト
X線光電子分光装置
メーカー | Surface Science Instrument |
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型番(形式) | M-probe |
設置場所 | セラ研A105室 |
管理室 | RCS-VII |
公開範囲 | 学内のみ |
学内利用 | 機器分析受付システム |
単色AlKα線を使用。Arスパッタリングによる深さ方向の分析が可能。
装置性能および仕様
分析範囲 | 0~1000eV |
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分解能 | 0.05eV |
分析対象
状態 | 固体 |
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物質 | 酸化物、金属 |
濃度 | 元素添加量が1wt%以上が必要 |
測定原理
試料表面にX線を照射し、試料表面から放出される光電子の運動エネルギーを計測することで、試料表面を構成する元素の組成、化学結合状態を分析する手法。試料表面数nm以下に存在する元素の情報を得ることができる。
■分析不可
有機物