透過型電子顕微鏡室Ⅱ

本測定室では主に無機材料を対象として、結晶構造や組織構造など物質の微細構造の観察、 解析を行っています。対象となる無機材料はセラミックスをはじめ、金属、半導体、ナノ材料など 多岐にわたります。観察、解析手法としては電子回折、明視野法、暗視野法、高分解能電子顕微鏡 （TEM）法、エネルギ―分散型X線分光（EDS）分析などを駆使して行います。また、高分解能走査 透過電子顕微鏡（STEM）観察や電子エネルギ―損失分光法（EELS）による測定が可能であり、先端的な 材料開発に貢献しています。

分析装置・機器リスト

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