FIB-SEMセミナー

近年の高度な技術的課題や厳密な品質管理への迅速な取り組みにおいて、先端分析設備の果たす役割がますます重要になってきています。当設備共用部門では、先端分析設備の計画的な整備・更新を行うと共に、広く学内外の皆さまにご活用いただけるよう活動しております。
本講演会では、昨年度に文部科学省事業であるマテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）で導入した複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM; JIB-4700F)について、日本電子株式会社様から講師をお招きし、本装置の特徴や新機能紹介をはじめ実際の測定事例についてご講演を頂く運びとなりました。ARIM事業では他にも学内外に対して分析に関する様々な支援内容を用意しておりますので併せてご紹介します。
また、希望者にはセミナー終了後に実機の見学を行います。学内外問わず分析のご相談等もその場でお受けいたしますので、お気軽にご相談ください。
皆さまの教育活動をはじめ、研究開発ならびに企業経営に当設備共用部門をご活用いただく契機として、本講演会へのご参加をお待ちしております。

プログラム

日　時：2025年7月23日（水） 10：00～（座学は11：10まで、実機見学は12：00まで）
場　所：名古屋工業大学4号館1階110室（交通アクセス）
※Microsoft Teamsによるオンライン配信あり（簡易接続マニュアルpdf）
参加費：無料

9：30
開場

10：00 ～ 10：10　※質疑応答込み
「マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）の紹介」
名古屋工業大学大学院工学専攻物理工学類・ARIM事業業務主任者
日原岳彦教授

（主な発表内容）
・ARIM事業とは
・名工大の支援内容
・使用できる装置

10：10 ～ 11：10　※質疑応答込み
「FIB-SEMの特徴と主な用途のご紹介」
日本電子株式会社
科学・計測機器営業本部セミコンダクタ・ソリューションセールス部
河野一郎氏

（主な発表内容）
・JIB-4700Fの特徴
・3D-SEM/3D-EDS/3D-EBSDの紹介
・TEM試料作製の紹介
・大気非暴露

11：10～ 11：20
休憩・移動

11：20 ～ 12：00
JIB-4700F見学会
※現地参加の希望者のみ
※適宜解散となります
※見学の後に相談もお受けします

お申し込み

以下のフォームよりお申し込みください。現地参加を希望される場合は7/17までにお申し込みください。
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今後のご案内（必須）	名古屋工業大学からの連絡 ※今後の分析関連の講演会の案内をお送り致します。 (プルダウン形式) 日本電子(株)からの連絡 ※希望するを選択頂いた方に講演資料および製品紹介等の案内をお送り致します。 ※希望者への講演資料および製品紹介等の案内のために日本電子(株)と個人情報を共有します。 (プルダウン形式)
お問い合わせ・ご意見等

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