装置番号一覧


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測定室(管理室)装置番号装置・機器メーカ名/型番(形式)
透過型電子顕微鏡室I01-2透過電子顕微鏡日本電子 / JEM-2100Plus
01-3方位解析システム日本電子 / ASTAR
透過型電子顕微鏡室II
02-2電界放出形透過電子顕微鏡日本電子 / JEM-2100F
02-3イオンスライサー日本電子 / EM-09100IS
02-4精密イオンポリシングシステムGatan / PIPS2　Model 695
02-5ディンプルブラインダGatan / Model 656
02-6マルチ成膜装置真空デバイス / VES-30T
02-7電界放出形透過電子顕微鏡日本電子 / JEM-F200
透過型電子顕微鏡室III03-1透過型電子顕微鏡日本電子 / JEM-z2500
03-2局所熱分析装置日本サーマル・コンサルティング / Nano-TA2，VESTA
03-3ウルトラミクロトームライカマイクロシステムズ / Leica EM UC7, FC7
03-4凍結試料作製装置日本電子 / JFD-Ⅱ（EM-19500）
03-5透過電子顕微鏡日本電子 / JEM-1400Plus
03-6走査電子顕微鏡日本電子 / JSM-6010LA
03-7真空蒸着装置日本電子 / JEE-420T
03-8オートファインコータ日本電子 / JEC-3000FC
透過型電子顕微鏡室IV04-1透過型電子顕微鏡日本電子 / JEM-2100
04-2集束イオン／電子ビーム 複合ビーム加工観察装置日本電子 / JIB-4500
透過型電子顕微鏡室V05-1原子分解能分析電子顕微鏡日本電子 / JEM-ARM200F
FIB-SEM室
06-1軟X線分析装置日本電子 /JXA-8230
06-2FIB-SEM日本電子 /JIB-4700F
06-3W-SEM日本電子 /JSM-IT200LA
06-4CCP日本電子 /IB-19520CCP
06-5ワイヤーソー日本電子 /DWS3500P
06-6FIB-SEM日本電子 /JIB-4700F
X線マイクロアナライザー室07-1電界放出型電子プローブマイクロアナライザ日本電子 /JXA-8530F
07-2電界放出型走査電子顕微鏡日本電子 /JSM-7001F
07-3走査プローブ顕微鏡日本電子 / JSPM-5200
07-4断面試料作製装置日本電子 / IB09020
07-5自動研磨機：メタサーブ250日本電子 / 49-10055
07-6埋込磨機：シンプリメット1000日本電子 / 20-1415
07-7精密切断機：アイソメット日本電子 / 11-1280-170
07-8蒸留水作成装置原料学機械製作所
07-9カーボンコータロングチャンパー仕様
07-10白金パラジウムコーターサンユー電子 / SC-701MC
走査電子顕微鏡室II08-1走査型電子顕微鏡日本電子 / JSM-6510
走査電子顕微鏡室III09-1低加速電圧型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡日本電子 / JSM-7800F
09-2オスミウム・プラズマコーターフィルジェン / OPC60A
X線分析室10-1粉末･多結晶用X線回折装置リガク / RINT-2100
10-2薄膜結晶用X線回折装置リガク / SmartLab
10-3粉末･多結晶用X線回折装置リガク / SmartLab SE
表面粗さ計室11-1表面粗さ計東京精密 / SURFCOM 1400
11-2表面粗さ計東京精密 / SURFCOM1400G-12
11-3走査型プローブ顕微鏡島津製作所 / SPM-9700
オージェ分析室12-1電界放出型オージェ電子分光装置日本電子 / JAMP-9500F
光電子分光室13-1X線光電子分光分析装置アルバック・ファイ / PHI5000 VersaProbe
13-2触針式膜厚計ULVAC / Dektak150
13-3走査型デュアルX線光電子分光分析装置アルバック・ファイ / PHI Quantes
2次イオン質量分析室14-12次イオン質量分析装置ATOMICA / SIMS-4000
14-2飛行時間型2次イオン質量分析装置アルバック・ファイ / PHI TRIFTV nanoTOF
電顕試料作製室15-1集束イオンビーム加工観察装置日本電子 / JEM-9320FIB
成膜室16-1イオンビームスパッタリング装置日本真空技術社 / IBS-2000BK
16-2マグネトロンスパッタリング装置アルバック / VTR-151M/SRF
16-3真空蒸着装置アルバック / VTR-060M/ERH
核磁気共鳴室
31-1超伝導高分解能核磁気共鳴装置Bruker / AV400N
31-2超伝導高分解能核磁気共鳴装置Bruker / AV500 + CryoProbe
31-3超伝導高分解能核磁気共鳴装置JEOL RESONANCE / ECZ700R
37-3パルスNMR分光計（物質ダイナミックス解析室と同じ装置）ブルカー・バイオスピン / ミニスペックmq
固体核磁気共鳴室32-2固体核磁気共鳴装置JEOL RESONANCE / ECA600II
質量分析室33-1レーザーイオン化高分解能飛行時間型MS日本電子 / JMS-S3000
33-2液体クロマトグラフ高分解能飛行時間型MSWaters / Synapt G2 HDMS + Acquity
33-3ガスクロマトグラフ高分解能飛行時間型MSWaters / GCT-Premier
33-4全自動元素分析装置Elementar / vario EL cube
33-5マトリックス蒸着装置島津製作所 / iMLayer
33-6マトリックス自動塗布装置島津製作所 / iMLayer AERO
33-7マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間質量分析計日本電子 / JMS-S3000 SpiralTOF™-plus 2.0
33-8高速液体クロマトグラフ/イオンモビリティ搭載型四重極飛行時間型質量分析計Waters / SELECT SERIES Cyclic IMS
熱分析室34-1示差熱天秤リガク / TG8101D
34-2示差走査熱量計リガク / DSC8230
34-3示差熱天秤リガク / TG8120
34-4示差走査熱量計リガク / DSC8230 (EVO)
電子スピン共鳴室35-1電子スピン共鳴装置日本電子 / JES-RE1X
35-2電子スピン共鳴装置日本電子 / JES-FA200
35-3簡易グローブボックスアズワン / VG400
赤外ラマン分光室36-1フーリエ変換赤外分光光度計日本分光 / FT/IR-6300， IRT-5000
36-2レーザーラマン分光装置日本分光 / NRS-3300
36-3レーザラマン分光光度計日本分光 / NRS-5500
物質ダイナミックス解析室
37-1粘弾性測定装置SIIナノテクノロジー / DMS6100
37-2熱機械分析装置SIIナノテクノロジー / TMA/SS7100C
37-3パルスNMR分光計ブルカー・バイオスピン / ミニスペックmq
37-4ダイナミックDSC装置パーキンエルマー / DSC8000
37-5応力制御式レオメーターアントンパール / MCR 302
37-6簡易接触角計協和界面科学 / DM500
RI実験室38-1放射能測定システム（γ線検出器）アロカ / ARC-380
38-2液体シンチレーションカウンターBeckman / LS-6000SE
38-4放射能検出分析システムCANBERRA / InSpector 2000
38-5メスバウアー分光装置WissEl / MVT-1000
生命科学実験室39-1超高感度等温滴定型熱量計Malvern / MicroCal iTC200
生体物質構造分光解析室40-13次元顕微蛍光寿命イメージング装置東京インスツルメンツ / NF-3DFLIM-N03
40-2単結晶X線構造解析装置リガク / VariMax with RAPID
ICP室41-1ICP発光分光分析装置島津製作所 / ICPE-9000
41-2蒸留水作成装置
41-3ICP発光分光分析装置島津製作所 / ICPE-9820
時間分解赤外分光室42-1時間分解赤外分光装置Bruker / VERTEX80+HYPERION3000
低温室52-1超高感度磁化率測定装置(SQUID1)QUANTUM DESIGN / MPMS-5P
52-4物理特性測定装置QUANTUM DESIGN / PPMS
52-5超高感度磁化率測定装置(SQUID2)QUANTUM DESIGN / MPMS-5P
52-6超高感度磁化率測定装置(SQUID3)QUANTUM DESIGN / MPMS-5P
52-7超高感度磁化率測定装置(SQUID4)QUANTUM DESIGN / MPMS-5P
無響室53無響室
電波暗室54電波暗室
未来通信研究センターM-1車載イーサネットパフォーマンステスタースパイレント コミュニケーションズ / Spirent Automotive C1
M-2EMIレシーバーキーサイト・テクノロジー / N9048B PXE
M-3ネットワークアナライザキーサイト・テクノロジー / E5080B
M-4光・電気通信波形解析システムキーサイト・テクノロジー / N4377A
M-5電気車載イーサネット評価システムキーサイト・テクノロジー / DSO404SA
M-6通信性能評価汎用機器キーサイト・テクノロジー / 53210A
M-7小型環境試験器エスペック / SH-642
M-8中型電波暗室リケン環境システム / 5面電波暗室
M-9シールドルームリケン環境システム / シールドルーム
M-10BCI/TWC/DPIイミュニティ試験システムノイズ研究所 / SYS-N2817-01、-02
M-11エミッション試験システム東陽テクニカ / TS9949-NITX
RCS-ⅠRCS-Ⅰ-1顕微蛍光Ｘ線分析装置堀場製作所/XGT7200V
RCS-Ⅰ-2共焦点顕微鏡レーザーテック/OPTELICS HYBRID C3
RCS-Ⅰ-3高周波真空溶解装置富士電波工業 / FMV-1
RCS-Ⅰ-4真空アーク溶解炉大亜真空 / ACM-S01
RCS-Ⅰ-5走査型電子顕微鏡日立ハイテクノロジーズ、堀場製作所 / TEC-LaB6-D
RCS-Ⅰ-6読取り機能一体型ラウエカメラシステムX線サイエンス / IPラウエカメラ
RCS-ⅡRCS-Ⅱ-1中規模並列計算機（旧型）ビジュアルテクノロジ / VT64
RCS-Ⅱ-2中規模並列計算機（新型）ビジュアルテクノロジ / VT64F
RCS-Ⅱ-3小規模並列計算機コンカレントシステムズ / CFS3U-Xe34
RCS-ⅢRCS-Ⅲ-1レーザーアブレーション成膜装置パスカル株式会社　他 / 特注仕様
RCS-Ⅲ-2真空蒸着装置株式会社アルバック　他 / 特注仕様
RCS-Ⅲ-3STM搭載RHEED装置
RCS-Ⅲ-4RHEED／LEED装置
RCS-ⅣRCS-Ⅳ-1レーザーラマン分光光度計日本分光株式会社 / RMP510-S
RCS-Ⅳ-2分光光度計日本分光株式会社 / V-670K
RCS-Ⅳ-3抵抗率／シート抵抗測定器ナプソン株式会社 / RT-70V/RG-7C
RCS-Ⅳ-4X線回折装置株式会社リガク / UltimaⅣ-285FX
RCS-ⅤRCS-Ⅴ-1ラマン分光－原子間力顕微鏡Renishaw / Raman-SPM/AFM
RCS-Ⅴ-2共焦点レーザー顕微鏡CarlZeiss / LSM880
RCS-Ⅴ-3走査型電子顕微鏡日本電子株式会社 / JSM-6010LA
RCS-Ⅴ-4グロー放電発光表面分析装置堀場製作所 / GD-Profiler2-MN
RCS-Ⅴ-5酸素・窒素・水素分析装置堀場製作所 / EMGA-930
RCS-Ⅴ-6ICP発光分析装置島津製作所 / ICPS-7510
RCS-Ⅴ-7炭素・硫黄分析装置LECO / CS844
RCS-Ⅴ-8ガスクロマトグラフ質量分析計日本電子株式会社 / JMS-Q1500GC
RCS-Ⅴ-9核磁気共鳴装置Bruker / AVANCEⅢ　HD400SJ
RCS-Ⅴ-10絶対分子量測定装置Waters / 液体クロマトグラフ質量分析計　ACQUITY
RCS-ⅥRCS-Ⅵ-1分光光度計島津製作所 / UV3600
RCS-Ⅵ-2分光光度計島津製作所 / SolidSpec-3700
RCS-Ⅵ-3円二色性分散計日本分光 / J-820
RCS-Ⅵ-4ゼータ電位・粒子径測定装置Malvern / ゼーターサイザーZS
RCS-Ⅵ-5液体クロマトグラフ質量分析計（19-240室）島津製作所 / LCMS-2020
RCS-Ⅵ-6液体クロマトグラフ質量分析計（19-619室）島津製作所 / LCMS-2020
RCS-Ⅵ-7300MHz 核磁気共鳴装置バリアン / PFG524N
RCS-Ⅵ-8高感度近赤外型絶対PL量子収率測定装置浜松ホトニクス / C13534-23
RCS-Ⅵ-9ナノ秒時間分解分光測定装置ユニソク / TSP-2000
RCS-ⅦRCS-Ⅶ-1ICP発光分析装置日立ハイテクサイエンス / SPS7800
RCS-Ⅶ-2X線光電子分光装置Surface Science Instrument / M-probe
RCS-Ⅶ-3単結晶X線回折装置Bruker / Smart Apex Ⅱ
RCS-Ⅶ-4粉末X線回折装置リガク / RINT1000
RCS-ⅧRCS-Ⅷ-1磁界-磁化アナライザ岩通計測 / SY-8218他
RCS-Ⅷ-2多光子励起レーザ走査型顕微鏡オリンパス / FV1200MPE-M-MKM
RCS-Ⅷ-3ホール効果測定システムEcopia社 / HMS-3000
RCS-Ⅷ-4X線CT装置(100kV)島津製作所 / inspeXio SMX-100CT
RCS-Ⅷ-5X線CT装置(225kV)島津製作所 / inspeXio SMX-225CT
RCS-ⅨRCS-Ⅸ-1動的データ計測システム東京測器研究所 / DRA-30A
RCS-Ⅸ-2恒温恒湿室一式（人工気候室）付属測定装置一式を含む㈱大西熱学

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