透過電子顕微鏡セミナー

近年の高度な技術的課題や厳密な品質管理への迅速な取り組みにおいて、先端分析設備の果たす役割がますます重要になってきています。当設備共用部門では、先端分析設備の計画的な整備・更新を行うと共に、広く学内外の皆さまにご活用いただけるよう活動しております。
本講演会では、本年度更新した電界放出形透過電子顕微鏡（JEM-F200）について、日本電子株式会社様から講師をお招きし、本装置の特徴や新機能紹介をはじめ実際の測定事例についてご講演を頂く運びとなりました。
また、希望者にはセミナー終了後に実機の見学を行います。併せて、学内外問わず分析のご相談等もお受けいたします。
皆さまの教育活動をはじめ、研究開発ならびに企業経営に当設備共用部門をご活用いただく契機として、本講演会へのご参加をお待ちしております。

プログラム

日　時：2025年2月6日（木） 13：30～15：30
場　所：名古屋工業大学4号館1階110室（交通アクセス）
※Microsoft Teamsによるオンライン配信あり（簡易接続マニュアルpdf）
参加費：無料

13：30 ～ 15：00（質問時間：10分を含む）
「多機能電子顕微鏡JEM-F200のご紹介」
日本電子株式会社　科学・計測機器営業本部
遠藤 徳明 氏

多機能電子顕微鏡JEM-F200は、TEM像、電子回折図形、STEM像の取得に加え、大口径SDDを2本搭載することで、ハイスループットかつ高精度なEDS分析を実現します。
直感的な操作性とオートアシスト機能を備え、さらにSPECPORTER™により、スイッチ一つでホルダーの安全な挿入・取り出しが可能です。本セミナーでは、装置の主な特長と取得可能なアプリケーション例についてご紹介いたします。

（主な発表内容）
・装置のハードウェア（Cold-FEG、Dual SDD、SPECPORTER™など）
・装置のソフトウェア（TEM Centerや統合分析プラットフォームFEMTUS™など）
・取得可能なアプリケーション例

15：00 ～ 15：10
休憩・移動

15：10 ～ 15：30
TEM (JEM-F200)見学会
※現地参加の希望者のみ
※搬入後立上げ途中の装置外観になります。立上げ作業中により人数制限を行う可能性がありますので、予めご了承ください。
※見学の後に相談もお受けします（最大17時まで）

お申し込み

以下のフォームよりお申し込みください。送信直後にWeb参加URLの記された自動返信メールをお送りします。数分で自動返信が無い場合はメールアドレスの入力ミスの可能性がありますので、再入力をお願いします。