透過型電子顕微鏡室Ⅱ

本測定室では透過型電子顕微鏡室Ｉよりも高空間分解能を必要とする微細構造の観察、 解析を行っています。対象となる材料はセラミックス、金属、半導体、ナノ材料、ソフトマテリアル、生体材料など多岐にわたります。観察、解析手法としては電子回折、明視野法、暗視野法、高分解能電子顕微鏡 （TEM）法、走査透過電子顕微鏡（STEM）観察、エネルギ―分散型X線分光（EDS）分析などが可能です。前処理装置としては無機材料のポリシングシステム等を整備しています。有機材料の前処理は透過型電子顕微鏡室Ⅲで対応可能です。

分析装置・機器リスト

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