表面分析セミナーⅡ～走査型デュアルＸ線光電子分光分析装置(XPS) PHI Quantes～
近年の高度な技術的課題や厳密な品質管理への迅速な取り組みにおいて、先端分析設備の果たす役割がますます重要になってきています。当設備共用部門では、先端分析設備の計画的な整備・更新を行うと共に、広く学内外のみなさまにご活用いただけるよう活動しております。
本セミナーでは、試料表面の構造解析を行う走査型デュアルＸ線光電子分光分析装置 PHI Quantes について、アルバック・ファイ株式会社様から講師をお招きし、装置の基礎的な原理から実際の測定事例、最新の動向までを、本学大学院物理工学専攻准教授 宮崎秀俊先生より、装置を実際に利用し測定した内容についてご講演を頂く運びとなりました。
本セミナー後、本来ならば、新たに導入した本装置を実際にご覧いただく見学会を行う予定でおりましたが、今回はコロナ禍ということで、学外参加者様向けの見学会は実施いたしません。なお、装置見学をご希望される方は個別に見学会をご案内させていただきます。併せて、受託試験のご相談等もお受けいたしますので、お申し込み時にお知らせ下さい。 学内関係者の方は、講演終了後～１７時まで装置室を開放致しますので、申し込み時にその旨ご連絡いただき、ご見学いただけましたら幸いでございます。
みなさまの教育・研究・開発・企業経営に当設備共用部門をご活用いただく契機として、本セミナーへのご参加をお待ちしております。
プログラム
日 時：2022年3月14日（月） 13：30～15：30
場 所：Microsoft Teamsによるオンライン開催（簡易接続マニュアルpdf）
参加費：無料
13：30 ～ 13：35
挨拶
名古屋工業大学産学官金連携機構長 江龍 修
13：35 ～ 14：30
「ラボ型XPS/HAXPESの装置と応用例」
アルバック・ファイ（株）製品戦略部製品企画室 眞田 則明 氏
14：30 ～ 15：20
「名工大に導入されたラボ型XPS/HAXPESを用いた機能性材料の電子構造評価」
名古屋工業大学大学院工学研究科 物理工学専攻 准教授 宮崎 秀俊 先生
15：20 ～ 15：30
「受託試験のご案内」
お申し込み
※申し込み受け付けは終了いたしました。多数ご参加頂き誠にありがとうございました。