情報・通信系
BCI/TWC/DPIイミュニティ試験システム
メーカー | ノイズ研究所 |
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型番(形式) | SYS-N2817-01、-02 |
設置場所 | 4号館826室(中型電波暗室) |
管理室 | 未来通信研究センター |
公開範囲 | 学内外 |
技術職員 | 配置あり |
学内利用 | 機器分析受付システム |
本装置は、電波暗室内でIEC62134-4に準拠したDPI(Direct Power Injection)法試験、およびISO11452-4に準拠したBCI法試験とTWC法試験を実施するためのシステム機器(構成詳細参照)です。高速通信システムのイミュニティ試験として、車載部品試験または車両試験の事前段階のICまたは車載部品のRF注入試験の試験装置にご利用ください。なお本装置は、中型電波暗室の同時利用が必要となります。
装置性能および仕様
DPI(Direct Power Injection)試験 | 対応規格:IEC62132-4 設備能力:100kHz-1GHz |
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BCI(Bulk Current Injection)試験 | 対応規格:ISO11452-4 設備能力:10kHz-1GHz |
TWC(Tubular Wave Coupler)試験 | 対応規格:ISO11452-4 設備能力:150MHz-3GHz |
信号発生器 (構成詳細を参照) | 設備能力: 4kHz-6GHz 160MHz幅AWGN※、印可可能 ※AWGN(相加性白色ガウシアン雑音) |
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イミュニティ用アンプ (構成詳細を参照) | 設備能力: 9kHz-250MHz 100Wmin 80MHz-200MHz 100Wmin 200MHz-1000MH 150Wmin 700MHz-6GHz 40Wmin |
構成詳細
信号発生器 | SMCV100B |
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周波数オプション 3GHz | SMCVB-B103 |
周波数オプション 6GHz | SMCVBKB106 |
帯域拡張 120MHz | SMCVB-K521 |
帯域拡張 160MHz | SMCVB-K522 |
アナログ変調 | SMCVB-K197 |
パルス変調 | SMCVB-K198 |
白色ガウス雑音 | SMCVB-K262 |
LAN-GPIBコンバータ | GPIB-LAN-C |
ラックマウント | HZN96 |
電力増幅器 1 | NA9KF250M100Ⅱ |
電力増幅器 2 | NA80MF1G100Ⅱ |
電力増幅器 3 | NA700MF6G100 |
方向性結合器 1 | C5086R-10 |
方向性結合器 2 | C5982R-10 |
方向性結合器 3 | IPP-3226 |
パワーメータ | E4417A |
ラックマウント | E4417-908 |
パワーセンサ(AV) 2台セット | E9304A |
同軸切替スイッチ(4ch) | NN-COM-02-00142A |
インジェクションプローブ | F-120-6A |
インジェクションプローブ校正治具 | FCC-BCICF-1 |
インジェクションプローブ | F-140 |
インジェクションプローブ校正治具 | FCC-BCICF-2 |
アッテネータ | RFS100G6C TypeB |
校正用終端器 | 25-T-MN |
BCI専用発泡治具 | – |
TWC | BI30413 |
TWC校正治具 | CF30000 |
校正用終端 | – |
システムコントロールソフトウェア(イミュニティ) | NETS-EMS |
アンプ保護用アッテネータ | – |
デジタルI/O | USB-6501 |
DPI用自動ソフトウェア | NETS-DPI |
非常停止ユニット | NN-COM-13-00005A |