トップ > 装置・機器紹介 > 走査型電子顕微鏡新共用プロジェクト走査型電子顕微鏡メーカー日本電子株式会社型番(形式)JSM-6010LA設置場所2号館1014B室管理室RCS-V公開範囲学内のみ多機能汎用SEM EDS搭載 (元素分析) 低真空モード搭載 (非導電性試料なども測定可能)装置性能および仕様分解能 (高真空モード)4 nm分解能 (低真空モード)5 nm分析対象分析対象粉末、バルク、薄膜検索キーワード新共用プロジェクト学内EDSSEM走査型電子顕微鏡低真空SEM走査電子顕微鏡(SEM)