測定室(管理室)装置・機器
メーカー名 / 型番(形式)
設置場所・公開範囲
FIB-SEM室 走査電子顕微鏡(W-SEM)
日本電子 / JSM-IT200LA
2号館113B室・学内外
RCS-V 走査型電子顕微鏡
日本電子株式会社 / JSM-6010LA
2号館1014B室・学内のみ
RCS-I 日立ハイテクS3400/堀場製作所分析装置
日立ハイテクノロジーズ、堀場製作所 / TEC-LaB6-D
1号館723B室・学内のみ
走査電子顕微鏡室Ⅲ 低加速電圧型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡(L-FE-SEM)
日本電子 / JSM-7800F
22号館409室・学内外
X線マイクロアナライザー室 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
日本電子 / JSM-7001F
22号館402室・学内外
X線マイクロアナライザー室 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
日本電子 / JXA-8530F
22号館402室・学内外
FIB-SEM室 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
日本電子 / JXA-8230
2号館113B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅴ 原子分解能分析電子顕微鏡(FE-TEM)
日本電子 / JEM-ARM200F
2号館121B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅳ 透過型電子顕微鏡
日本電子 / JEM-2100
セラ研B棟122・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅲ 透過型電子顕微鏡(3D-TEM)
日本電子 / JEM-z2500
2号館122B室・学内外