FIB-SEM室

FIB-SEMを中心として、その前観察装置や試料加工装置を整備しています。

分析装置・機器リスト

  • 機器名走査電子顕微鏡(SEM)
    メーカー日本電子
    型番(形式)JSM-IT200LA
    設置場所2号館113B室
    公開範囲学内外
  • 機器名ワイヤーソー
    メーカーメイワフォーシス
    型番(形式)DWS3500P
    設置場所2号館113B室
    公開範囲学内外