物理・表面計測系
原子分解能分析電子顕微鏡(FE-TEM)
| メーカー | 日本電子 |
|---|---|
| 型番(形式) | JEM-ARM200F |
| 設置場所 | 2号館121B室 |
| 管理室 | 透過型電子顕微鏡室V |
| 公開範囲 | 学内外 |
| 技術職員 | 配置あり |
| 学内利用 | 機器分析受付システム |
収差補正器を用いて0.1 nm以下の電子線プローブを作ることができます。それを用いて原子分解能での走査透過電子顕微鏡（STEM）像を得ることができます。また、STEMとEDSやEELSを組み合わせることで元素マッピングを原子分解能で行うことができます。その他、通常の高分解能TEM像や電子回折図形をデジタルデータで撮影することができます。
装置性能および仕様
| 加速電圧 | 80 or 200 kV |
|---|---|
| 電子銃 | 冷陰極型フィールドエミッション |
| 観察モード | 透過型電子顕微鏡（TEM）、走査透過型電子顕微鏡（STEM）、電子回折（ED）、エネルギーフィルター（EFTEM） |
| 分析機能 | エネルギー分散型X線分光器（EDS）、電子エネルギー損失分光器（EELS） |
| 記録装置 | CCDカメラ①（サイドマウント）：主に中低倍および電子回折用 CCDカメラ②（ボトムマウント）：主に高分解能用 CCDカメラ③（GIFに装着）：主にエネルギーフィルター像の撮影用 |
| 試料ホルダー | 一軸傾斜ホルダー、二軸傾斜ホルダー、分析用Be二軸傾斜ホルダー、加熱二軸傾斜ホルダー、液体窒素二軸傾斜冷却ホルダー、界面接合ホルダー、3グリッド装着試料ホルダー |
| 遠隔観察 | Microsoft Teams等のWeb会議システムを用いた遠隔の立ち会い測定が可能 |
分析対象
| 状態 | 無機物質 |
|---|---|
| 試料サイズ | 試料はφ3mmのTEM用メッシュに載っている必要があります |
| 分析不可 | 磁性体および有機物は応相談 |
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