測定室(管理室)装置・機器
メーカー名 / 型番(形式)
設置場所・公開範囲
FIB-SEM室 複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM)
日本電子 / JIB-4700F
2号館113B室・学内外
透過型電子顕微鏡室I 透過型電子顕微鏡(TEM)
日本電子 / JEM-2100Plus
22号館102室・学内外
RCS-V ICP発光分析装置
島津製作所 / ICPS-7510
2号館1014B室・学内のみ
RCS-V 酸素・窒素・水素分析装置
堀場製作所 / EMGA-930
2号館1014B室・学内外
RCS-VII X線光電子分光装置
Surface Science Instrument / M-probe
セラ研A105室・学内のみ
質量分析室 全自動元素分析装置
Elementar / vario EL cube
22号館223室・学内外
2次イオン質量分析室 飛行時間型2次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)
アルバック・ファイ / PHI TRIFTV nanoTOF
22号館159室・学内外
光電子分光室 X線光電子分光分析装置(XPS)
アルバック・ファイ / PHI5000 VersaProbe
22号館317室・学内外
FIB-SEM室 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
日本電子 / JXA-8230
2号館113B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅲ 局所熱分析装置
日本サーマル・コンサルティング / Nano-TA2,VESTA
2号館909A室・学内外