| 測定室（管理室） | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
|---|---|---|
| 光電子分光室 | 走査型デュアルX線光電子分光分析装置(XPS) アルバック・ファイ / PHI Quantes | 22号館159室・学内外 |
| FIB-SEM室 | 複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM) 日本電子 / JIB-4700F | 2号館113B室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ｉ | 透過型電子顕微鏡(TEM) 日本電子 / JEM-2100Plus | 22号館102室・学内外 |
| RCS-VIII | X線CT装置(225kV) 島津製作所 / inspeXio SMX-225CT | 3号館126室・学内外 |
| RCS-VIII | X線CT装置(100kV) 島津製作所 / inspeXio SMX-100CT | 3号館126室・学内外 |
| RCS-V | 核磁気共鳴装置 Bruker / AVANCEⅢ HD400SJ | 2号館102A室・学内のみ |
| RCS-V | ラマン分光－原子間力顕微鏡 Renishaw / Raman-SPM/AFM | 2号館1010B室・学内のみ |
| 生体物質構造分光解析室 | 単結晶X線構造解析装置(XRD) リガク / VariMax with RAPID | 22号館156室・学内外 |
| 固体核磁気共鳴室 | 固体核磁気共鳴装置(NMR) JEOL RESONANCE / ECA600II | 22号館160室・学内外 |
| 核磁気共鳴室 | 超伝導高分解能核磁気共鳴装置(NMR) Bruker / AV400N | 22号館311室・学内のみ |