新共用プロジェクト

走査型電子顕微鏡

jsm6010la
メーカー日本電子株式会社
型番(形式)JSM-6010LA
導入年度2013
設置場所2号館1014B室
管理室RCS-V
公開範囲学内のみ

多機能汎用SEM
EDS搭載 (元素分析)
低真空モード搭載 (非導電性試料なども測定可能)

装置性能および仕様

分解能 (高真空ﾓｰﾄﾞ)4 nm
分解能 (低真空ﾓｰﾄﾞ)5 nm

分析対象

分析対象粉末、バルク、薄膜

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