新共用プロジェクト
走査型電子顕微鏡
| メーカー | 日本電子株式会社 |
|---|---|
| 型番(形式) | JSM-6010LA |
| 設置場所 | 2号館1014B室 |
| 管理室 | RCS-V |
| 公開範囲 | 学内のみ |
多機能汎用SEM
EDS搭載 (元素分析)
低真空モード搭載 (非導電性試料なども測定可能)
装置性能および仕様
| 分解能 (高真空ﾓｰﾄﾞ) | 4 nm |
|---|---|
| 分解能 (低真空ﾓｰﾄﾞ) | 5 nm |
分析対象
| 分析対象 | 粉末、バルク、薄膜 |
|---|
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