2022年度 先端分析設備活用講演会
近年の高度な技術的課題や厳密な品質管理への迅速な取り組みにおいて、先端分析設備の果たす役割がますます重要になってきています。当設備共用部門では、先端分析設備の計画的な整備・更新を行うと共に、広く学内外の皆さまにご活用いただけるよう活動しております。
本講演会では、昨年度導入した SEM-FIB(JIB4700F) と 3D-EBSD 装置につきまして、日本電子株式会社様ならびに株式会社TSLソリューションズ様から講師をお招きし、装置の基礎的な原理から実際の測定事例、最新の分析技術の動向までを、本学大学院工学専攻准教授 佐藤 尚先生より、導入装置で実際に測定した内容についてご講演を頂く運びとなりました。
なお、今回はコロナ禍ということで、当設備共用部門の各種設備をご覧いただく設備見学会は行いませんが、設備の見学をご希望される方には別途個別に見学会を行います。併せて、受託試験のご相談等もお受けいたしますので、お申し込み時にお知らせ下さい。
皆さまの教育活動をはじめ、研究開発ならびに企業経営に当設備共用部門をご活用いただく契機として、本講演会へのご参加をお待ちしております。
プログラム
日 時:2022年6月10日(金) 13:30~16:00
場 所:Microsoft Teamsによるオンライン開催(簡易接続マニュアルpdf)
参加費:無料
13:30 ~ 13:35
挨拶
名古屋工業大学産学官金連携機構長 江龍 修
13:35 ~ 14:20
「複合ビーム加工観察装置を用いた構造材料における組織解析事例」
名古屋工業大学大学院工学研究科工学専攻(物理工学系プログラム) 准教授 佐藤 尚先生
14:20 ~ 14:30
休憩
14:30 ~ 15:10
「JIB-4700Fの紹介」
日本電子株式会社SI営本 SI販促 Scan系G 河野 一郎 氏
15:10 ~ 15:50
「3D-EBSDの紹介」
株式会社TSLソリューションズ 代表取締役 鈴木 清一 氏
15:50 ~ 16:00
「産学官金連携機構設備共用部門受託試験のご案内」
お申し込み
※申し込み受け付けは終了いたしました。多数ご参加頂き誠にありがとうございました。
参加者: 126名(教職員14名、学生5名、学外107名)