表面分析セミナーⅢ～casa XPS～（学内限定）
先生方をはじめ、研究員、学生の皆様におかれましては、日頃より設備共用部門の各種装置をご活用いただきありがとうございます。当部門では先端分析設備の計画的な整備・更新を行うと共に、広くご活用いただけるよう活動しております。
本セミナーでは、走査型デュアルX線光電子分光分析装置PHI Quantesと共に導入しました解析ソフトcasa XPS（学内では無料にて使用可能、さらにXPSにとどまらずAES、TOF-SIMSの解析も可能） について、大学院工学専攻物理工学系プログラム 准教授 宮崎秀俊先生より、光電子分光法の基礎ならびに解析ソフトを利用した解析方法についてご講演いただきます。
また、セミナー終了後～１７時まで装置室を開放致しますので、申し込み時にその旨ご連絡いただき、ご見学ならびに個別の相談をお受け致します。皆様の教育・研究に走査型デュアルX線光電子分光分析装置 PHI Quantes をご活用いただく契機として、本セミナーへのご参加をお待ちしております。
なお、当日、ソフトの内容についてご講演いただくこととなっておりますので、ご使用予定がありましたら、事前にサイトライセンスへのご申請をお願い致します。（教員からの申請のみとさせていただいておりますので、申し込み時にお知らせください。追って、申請書類等をお送り致します。申込先：xps@adm.nitech.ac.jp）
プログラム
日 時：2022年7月21日（木） 13：00～14：45 13：15～15：00
場 所：Microsoft Teamsによるオンライン開催（簡易接続マニュアルpdf）
4号館110室およびzoomのハイブリッド
対象者：学内者
13：00 ～ 13：05 13：15～13:20
挨拶
産学官金連携機構 設備共用部門長 永田謙二
13：05 ～ 13：50 13：20～14：05
「光電子分光法の基礎」
大学院工学専攻物理工学系プログラム 准教授 宮崎秀俊先生
13：50 ～ 14：00 14：05～14：15
休憩
14：00 ～ 14：45 14：15：～15：00
「Casa XPS を用いた測定データの解析方法」
大学院工学専攻物理工学系プログラム 准教授 宮崎秀俊先生
14：50 ～ 17：00 15：10 ～ 17：00
「走査型デュアルX線光電子分光分析装置 PHI Quantes 見学会・個別相談」
＠22号館1階159室
お申し込み
※申し込み受け付けは終了いたしました。多数ご参加頂き誠にありがとうございました。
参加者：30名（教員6名、職員1名、学生23名）