物理・表面計測系
透過型電子顕微鏡(TEM)
| メーカー | 日本電子 |
|---|---|
| 型番(形式) | JEM-1400Plus |
| 導入年度 | 2013 |
| 設置場所 | 2号館122B室 |
| 管理室 | 透過型電子顕微鏡室Ⅲ |
| 公開範囲 | 学内外 |
| 技術職員 | 配置あり |
| 学内利用 | 機器分析受付システム |
生物分野からポリマー、ナノテクノロジー、最先端材料まで幅広い分野で透過電子顕微鏡観察が可能です。
装置性能および仕様
| 電子銃 | W |
|---|---|
| 加速電圧 | 40, 60, 80, 100 kV （10～120 kV） |
| 分解能 | 粒子像：0.38 nm，格子像：0.2 nm |
| 倍率 | MAGモード ×200 ～×1,200,000 LOW MAGモード ×10 ～×1,000 |
分析対象
| 試料サイズ | ・3mmΦ のグリッドに試料を載せて高真空中で観察する。 ・電子線が透過できる厚さであることが必要 |
|---|---|
| 分析不可 | (1) 毒物、危険物 (2) ガスが発生するなど、装置の故障の原因となる試料 (3) 強い磁化を持つ試料（磁性体については別途ご相談ください） (4) 前処理や分析過程で、装置に障害をきたす恐れがあると判断した試料 |