物理・表面計測系

透過型電子顕微鏡(TEM)

jem1400p
メーカー日本電子
型番(形式)JEM-1400Plus
設置場所2号館122B室
管理室透過型電子顕微鏡室Ⅲ
公開範囲学内外

生物分野からポリマー、ナノテクノロジー、最先端材料まで幅広い分野で透過電子顕微鏡観察が可能です。

装置性能および仕様

加速電圧40, 60, 80, 100 kV (10~120 kV)
分解能粒子像:0.38 nm,格子像:0.2 nm
倍率MAGモード ×200 ~×1,200,000
LOW MAGモード ×10 ~×1,000

分析対象

試料サイズ・3mmΦ のグリッドに試料を載せて高真空中で観察する。
・電子線が透過できる厚さであることが必要
分析不可(1) 毒物、危険物
(2) ガスが発生するなど、装置の故障の原因となる試料
(3) 強い磁化を持つ試料(磁性体については別途ご相談ください)
(4) 前処理や分析過程で、装置に障害をきたす恐れがあると判断した試料

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