物理・表面計測系
ウルトラミクロトーム
| メーカー | ライカマイクロシステムズ |
|---|---|
| 型番(形式) | Leica EM UC7, FC7 |
| 設置場所 | 2号館909A室 |
| 管理室 | 透過型電子顕微鏡室Ⅲ |
| 公開範囲 | 学内外 |
| 技術職員 | 配置あり |
| 学内利用 | 機器分析受付システム |
透過型電子顕微鏡（TEM）観察で必要な高品質な超薄切片（厚さ約100 nm），走査型電子顕微鏡（SEM）あるいは原子間力顕微鏡（AFM）観察で必要な高い面精度の断面を作製できます。
室温で軟らかい試料は凍結させて切削することもできます（凍結切片作製可能）。
装置性能および仕様
| 実体顕微鏡 M80 倍率 | ×9.6～×77 |
|---|---|
| 切削ウィンドウ | 0.2-14 mm |
| 電動切削時の切削スピード | 0.05-100 mm/s |
| 電動切削時の送り（切片の厚さ） | 0-15000 nm |
| 電動切削時の戻り速度 | 10, 30, 50mm/s |
| ステップコントロール | 0.1 ～15 μm |
| 切削制御温度 | -140℃～室温 |