物理・表面計測系
透過型電子顕微鏡
| メーカー | 日本電子株式会社 |
|---|---|
| 型番(形式) | JEM-2100 |
| 導入年度 | 2010 |
| 設置場所 | セラ研B棟122 |
| 管理室 | 透過型電子顕微鏡室IV |
| 公開範囲 | 学内外 |
| 技術職員 | 配置あり |
| 学内利用 | 機器分析受付システム |
各機能がPCで一元管理されたハイコストパフォーマンスの200kV汎用形の電子顕微鏡です。
装置性能および仕様
| 装置性能および仕様 | EDS付き |
|---|
分析対象
| 状態 | 固体 |
|---|
物理・表面計測系
| メーカー | 日本電子株式会社 |
|---|---|
| 型番(形式) | JEM-2100 |
| 導入年度 | 2010 |
| 設置場所 | セラ研B棟122 |
| 管理室 | 透過型電子顕微鏡室IV |
| 公開範囲 | 学内外 |
| 技術職員 | 配置あり |
| 学内利用 | 機器分析受付システム |
各機能がPCで一元管理されたハイコストパフォーマンスの200kV汎用形の電子顕微鏡です。
| 装置性能および仕様 | EDS付き |
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| 状態 | 固体 |
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