物理・表面計測系
走査型プローブ顕微鏡(SPM)

メーカー | 島津製作所 |
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型番(形式) | SPM-9700 |
設置場所 | 22号館222室 |
管理室 | 表面粗さ計室 |
公開範囲 | 学内外 |
技術職員 | 配置なし |
学内利用 | 機器分析受付システム |
マニュアル (学内のみ) | ハードウェア(JP)、(EN) ソフトウェア(JP)、(EN) 観察ガイド(JP)、(EN) その他資料 |
試料表面を微小なプローブ(探針)で走査し、試料の三次元形状や局所的物性を高倍率で観察する顕微鏡です。
装置性能および仕様
観察モード | コンタクトモード、ダイナミックモード、位相モード、水平力モード、フォースモジュレーションモード |
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分解能 | XY:0.2 nm、Z:0.01 nm |
最大走査範囲 | 30 μm□ x 8 μm |
分析対象
試料最大形状 | φ24 mm x 8 mm |
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状態 | 薄板状 |