測定室(管理室) | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
---|---|---|
RCS-I | 顕微蛍光X線分析装置 堀場製作所 / XGT-7200V | 1号館109A室・学内外 |
2次イオン質量分析室 | 飛行時間型2次イオン質量分析装置(TOF-SIMS) アルバック・ファイ / PHI TRIFTV nanoTOF | 22号館159室・学内外 |
X線マイクロアナライザー室 | 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) 日本電子 / JXA-8530F | 22号館402室・学内外 |
測定室(管理室) | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
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RCS-I | 顕微蛍光X線分析装置 堀場製作所 / XGT-7200V | 1号館109A室・学内外 |
2次イオン質量分析室 | 飛行時間型2次イオン質量分析装置(TOF-SIMS) アルバック・ファイ / PHI TRIFTV nanoTOF | 22号館159室・学内外 |
X線マイクロアナライザー室 | 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) 日本電子 / JXA-8530F | 22号館402室・学内外 |