| 測定室（管理室） | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
|---|---|---|
| 電子顕微鏡試料作成室 | 集束イオンビーム加工観察装置(FIB) 日本電子 / JEM-9320FIB | 22号館414室・学内外 |
| X線マイクロアナライザー室 | 断面試料作製装置 日本電子 / IB09020 | 22号館401室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | 凍結試料作製装置 日本電子 / JFD-Ⅱ（EM-19500） | 2号館909A室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | ウルトラミクロトーム ライカマイクロシステムズ / Leica EM UC7, FC7 | 2号館909A室・学内外 |