| 測定室（管理室） | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
|---|---|---|
| 透過型電子顕微鏡室Ⅳ | 集束イオン／電子ビーム 複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM) 日本電子 / JIB-4500 | セラ研B棟117・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅳ | 透過型電子顕微鏡 日本電子 / JEM-2100 | セラ研B棟122・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | 凍結試料作製装置 日本電子 / JFD-Ⅱ（EM-19500） | 2号館909A室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | ウルトラミクロトーム ライカマイクロシステムズ / Leica EM UC7, FC7 | 2号館909A室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | 局所熱分析装置 日本サーマル・コンサルティング / Nano-TA2，VESTA | 2号館909A室・学内のみ |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | 透過型電子顕微鏡(TEM) 日本電子 / JEM-1400Plus | 2号館122B室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | 透過型電子顕微鏡(3D-TEM) 日本電子 / JEM-z2500 | 2号館122B室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅱ | 精密イオンポリシングシステム Gatan / PIPS2 Model 695 | 22号館213室・学内のみ |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅱ | 電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM) 日本電子 / JEM-2100F | 22号館214室・学内外 |