学外向け機器分析コンシェルジュ

本学設備共用部門では、学内の教員・学生に向けた「機器分析コンシェルジュ」を定期的に開催してまいりました。
このたび、学外の皆さまにも先端分析設備をご活用いただけるよう、「学外向け機器分析コンシェルジュ」を企画しました。
分析のご相談から受託試験の申込方法まで、本学の技術職員が丁寧にサポートいたします。
参加をご希望の方は、以下の開催概要をご確認のうえ、必要事項をご記入ください。

プログラム

日　時：2026年12月18日（金） 13：00～16：00
場　所：名古屋工業大学22号館プレゼンテーションルーム（交通アクセス、建物案内）
参加費：無料
定　　員：20名（先着順）
※定員に達し次第、受付を締め切らせていただく場合がございます。

13：00 ～ 13：15　※質疑応答込み
設備共用部門および受託試験のご紹介
名古屋工業大学
山本　義哉　准教授

13：15 ～ 14：15　
設備共用部門　分析装置見学

（見学予定装置）
・電界放出形透過電子顕微鏡（FE-TEM）
・複合ビーム加工観察装置（FIB-SEM）
・低加速電圧型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡（L-FE-SEM）
・走査型デュアルX線光電子分光分析装置（XPS）
・飛行時間型2次イオン質量分析装置（TOF-SIMS）
・超伝導高分解能核磁気共鳴装置（NMR）
・固体核磁気共鳴装置（NMR）
・高速液体クロマトグラフ/イオンモビリティ搭載型四重極飛行時間型質量分析計（HPLC-IMS-QToFMS）
・ICP発光分光分析装置（ICP）

14：15 ～ 14：20
休憩

14：20 ～ 15：45
個別相談
設備の活用をご検討中の方や、測定・分析でお困りごとがありましたら、装置担当の技術職員に直接ご相談いただけます。
※相談希望者多数の場合は、お待ちいただく場合があります。

お申し込み

以下のフォームよりお申し込みください。送信直後に自動返信メールをお送りします。

設備の活用をご検討中の方や、測定・分析でお困りの方も、ぜひお気軽にお申し込みください。
皆さまのご参加を心よりお待ちしております。