測定室(管理室)装置・機器
メーカー名 / 型番(形式)
設置場所・公開範囲
透過型電子顕微鏡室Ⅱ ディンプルグラインダー
Gatan / Model 656
22号館213室・学内外
透過型電子顕微鏡室I 透過型電子顕微鏡(TEM)
日本電子 / JEM-2100Plus
22号館102室・学内外
電子顕微鏡試料作成室 集束イオンビーム加工観察装置(FIB)
日本電子 / JEM-9320FIB
22号館414室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅴ 原子分解能分析電子顕微鏡(FE-TEM)
日本電子 / JEM-ARM200F
2号館121B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅳ 透過型電子顕微鏡
日本電子 / JEM-2100
セラ研B棟122・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅲ 透過型電子顕微鏡(TEM)
日本電子 / JEM-1400Plus
2号館122B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅲ 透過型電子顕微鏡(3D-TEM)
日本電子 / JEM-z2500
2号館122B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅱ 精密イオンポリシングシステム
Gatan / PIPS2 Model 695
22号館213室・学内のみ
透過型電子顕微鏡室Ⅱ 電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM)
日本電子 / JEM-2100F
22号館214室・学内外