測定室(管理室)装置・機器
メーカー名 / 型番(形式)
設置場所・公開範囲
透過型電子顕微鏡室Ⅱ ディンプルグラインダー
Gatan / Model 656
22号館213室・学内外
FIB-SEM室 冷却クロスセクションポリッシャ(CCP)
日本電子 / IB19520CCP
2号館113B室・学内外
光電子分光室 X線光電子分光分析装置(XPS)
アルバック・ファイ / PHI5000 VersaProbe
22号館317室・学内外
X線マイクロアナライザー室 断面試料作製装置
日本電子 / IB09020
22号館401室・学内外
X線マイクロアナライザー室 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)
日本電子 / JSM-7001F
22号館402室・学内外
FIB-SEM室 電子プローブマイクロアナライザ(EPMA)
日本電子 / JXA-8230
2号館113B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅱ 精密イオンポリシングシステム
Gatan / PIPS2 Model 695
22号館213室・学内のみ