測定室(管理室) | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
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電波暗室 | 電波暗室 / | 22号館105室・学内外 |
X線分析室 | 粉末・多結晶用X線回折装置(XRD) リガク / SmartLabSE | 22号館401室・学内外 |
物質ダイナミックス解析室 | 応力制御式レオメーター Anton Paar AG / MCR-302 | 22号館413室・学内外 |
時間分解赤外分光室 | 時間分解赤外分光装置 Bruker / VERTEX80+HYPERION3000 | 22号館 217室・学内外 |
FIB-SEM室 | オートファインコーター 日本電子 / JEC-3000FC | 2号館113B室・学内外 |
RCS-VI | ゼータ電位・粒子径測定装置 Malvern / ゼーターサイザーZS | 19号館314室・学内外 |
RCS-VIII | 磁界-磁化アナライザ 岩通計測 / SY-8218他 | 16号館105室・学内外 |
RCS-I | 白色共焦点顕微鏡 レーザーテック / OPTELICS HYBRID C3 | 1号館109A室・学内外 |
RCS-I | 顕微蛍光X線分析装置 堀場製作所 / XGT-7200V | 1号館109A室・学内外 |
低温室 | 物理特性測定装置 QUANTUM DESIGN / PPMS | 54号館・学内外 |