測定室(管理室) | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
---|---|---|
FIB-SEM室 | 冷却クロスセクションポリッシャ(CCP) 日本電子 / IB19520CCP | 2号館113B室・学内外 |
FIB-SEM室 | 複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM) 日本電子 / JIB-4700F | 2号館113B室・学内外 |
FIB-SEM室 | 走査電子顕微鏡(W-SEM) 日本電子 / JSM-IT200LA | 2号館113B室・学内外 |
光電子分光室 | 触針式膜厚計 ULVAC / Dektak150 | 22号館259室・学内外 |
透過型電子顕微鏡室I | 透過型電子顕微鏡(TEM) 日本電子 / JEM-2100Plus | 22号館102室・学内外 |
未来通信研究センター | 通信性能評価汎用機器 キーサイト・テクノロジー / 53210A, 外 | 4号館822室・学内外 |
未来通信研究センター | 光・電気通信波形解析システム キーサイト・テクノロジー / N4377A, 外 | 4号館822室・学内外 |
未来通信研究センター | ネットワークアナライザ キーサイト・テクノロジー / E5080B, 外 | 4号館822室・学内外 |
未来通信研究センター | 電気車載イーサネット評価システム キーサイト・テクノロジー / DSO404SA, 外 | 4号館822室・学内外 |
未来通信研究センター | 小型環境試験器 エスペック / SH-642 | 4号館822室・学内外 |