測定室(管理室) | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
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電波暗室 | 電波暗室 / | 22号館105室・学内外 |
X線分析室 | 粉末・多結晶用X線回折装置(XRD) リガク / SmartLabSE | 22号館401室・学内外 |
物質ダイナミックス解析室 | 応力制御式レオメーター Anton Paar AG / MCR-302 | 22号館413室・学内外 |
時間分解赤外分光室 | 時間分解赤外分光装置 Bruker / VERTEX80+HYPERION3000 | 22号館 217室・学内外 |
表面粗さ計室 | 表面粗さ計 東京精密 / SURFCOM 1400G(高倍率) | 22号館222室・学内のみ |
RCS-V | 絶対分子量測定装置 Waters / 液体クロマトグラフ質量分析計 ACQUITY | 2号館102A室・学内のみ |
RCS-I | 読取り機能一体型ラウエカメラシステム X線サイエンス / IPラウエカメラ | 1号館109A室・学内のみ |
FIB-SEM室 | オートファインコーター 日本電子 / JEC-3000FC | 2号館113B室・学内外 |
透過型電子顕微鏡室Ⅲ | 真空蒸着装置 日本電子 / JEE-420T | 2号館909A室・学内のみ |
RCS-VI | ナノ秒時間分解分光測定装置 ユニソク / TSP-2000 | 19号館603室・学内のみ |