測定室(管理室) | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
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FIB-SEM室 | マイクロマニピュレーター マイクロサポート / AxisPro FC | 22号館259室・学内外 |
FIB-SEM室 | 複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM) 日本電子 / JIB-4700F | 22号館259室・学内外 |
透過型電子顕微鏡室Ⅱ | 電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM) 日本電子 / JEM-F200 | 22号館155室・学内外 |
ICP室 | ICP発光分光分析装置 島津製作所 / ICPE-9820 | 22号館317室・学内外 |
RI実験室 | メスバウアー分光装置 WissEl、他 / MVT-1000、他 | 54 号館 RI 実験室・学内外 |
表面粗さ計室 | 走査型プローブ顕微鏡(SPM) 島津製作所 / SPM-9700 | 22号館222室・学内外 |
透過型電子顕微鏡室Ⅱ | ディンプルグラインダー Gatan / Model 656 | 22号館213室・学内外 |
FIB-SEM室 | ワイヤーソー メイワフォーシス / DWS3500P | 2号館113B室・学内外 |
FIB-SEM室 | 冷却クロスセクションポリッシャ(CCP) 日本電子 / IB19520CCP | 2号館113B室・学内外 |
FIB-SEM室 | 複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM) 日本電子 / JIB-4700F | 2号館113B室・学内外 |