| 測定室(管理室) | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式)  | 設置場所・公開範囲 | 
|---|---|---|
|  超伝導高分解能核磁気共鳴装置(NMR) Bruker / AVANCE NEO 600 + CryoProbe  | 22号館260室・学内外 | |
| FIB-SEM室 |  走査電子顕微鏡(W-SEM) 日本電子 / JSM-IT210A  | 2号館113B室・学内外 | 
| 透過型電子顕微鏡室Ⅱ |  電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM) 日本電子 / JEM-F200  | 22号館155室・学内外 | 
| 光電子分光室 |  走査型デュアルX線光電子分光分析装置(XPS) アルバック・ファイ / PHI Quantes  | 22号館159室・学内外 | 
| FIB-SEM室 |  複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM) 日本電子 / JIB-4700F  | 2号館113B室・学内外 | 
| FIB-SEM室 |  走査電子顕微鏡(W-SEM) 日本電子 / JSM-IT200LA  | 2号館113B室・学内外 | 
| 透過型電子顕微鏡室I |  透過型電子顕微鏡(TEM) 日本電子 / JEM-2100Plus  | 22号館102室・学内外 | 
| RCS-VI |  円二色性分散計 日本分光 / J-820  | 19号館603室・学内のみ | 
| RCS-V |  核磁気共鳴装置 Bruker / AVANCEⅢ HD400SJ  | 2号館102A室・学内のみ | 
| RCS-V |  ICP発光分析装置 島津製作所 / ICPS-7510  | 2号館1014B室・学内のみ |