測定室（管理室）	装置・機器 メーカー名 / 型番(形式)	設置場所・公開範囲
光電子分光室	走査型デュアルX線光電子分光分析装置(XPS) アルバック・ファイ / PHI Quantes	22号館159室・学内外
FIB-SEM室	複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM) 日本電子 / JIB-4700F	2号館113B室・学内外
FIB-SEM室	走査電子顕微鏡(W-SEM) 日本電子 / JSM-IT200LA	2号館113B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ｉ	透過型電子顕微鏡(TEM) 日本電子 / JEM-2100Plus	22号館102室・学内外
RCS-VI	円二色性分散計 日本分光 / J-820	19号館603室・学内のみ
RCS-V	核磁気共鳴装置 Bruker / AVANCEⅢ　HD400SJ	2号館102A室・学内のみ
RCS-V	ICP発光分析装置 島津製作所 / ICPS-7510	2号館1014B室・学内のみ
固体核磁気共鳴室	固体核磁気共鳴装置(NMR) JEOL RESONANCE / ECA600II	22号館160室・学内外
核磁気共鳴室	超伝導高分解能核磁気共鳴装置(NMR) Bruker / AV500 + CryoProbe	22号館316室・学内外
核磁気共鳴室	超伝導高分解能核磁気共鳴装置(NMR) JEOL RESONANCE / ECZ700R	22号館160室・学内外