測定室(管理室) | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
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電子スピン共鳴室 | 簡易グローブボックス アズワン / VG400 | 22号館306室・学内外 |
光電子分光室 | 走査型デュアルX線光電子分光分析装置(XPS) アルバック・ファイ / PHI Quantes | 22号館159室・学内外 |
FIB-SEM室 | 冷却クロスセクションポリッシャ(CCP) 日本電子 / IB19520CCP | 2号館113B室・学内外 |
FIB-SEM室 | 複合ビーム加工観察装置(FIB-SEM) 日本電子 / JIB-4700F | 2号館113B室・学内外 |
2次イオン質量分析室 | 飛行時間型2次イオン質量分析装置(TOF-SIMS) アルバック・ファイ / PHI TRIFTV nanoTOF | 22号館159室・学内外 |
X線マイクロアナライザー室 | 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) 日本電子 / JXA-8530F | 22号館402室・学内外 |