| 測定室（管理室） | 装置・機器 メーカー名 / 型番(形式) | 設置場所・公開範囲 |
|---|---|---|
| X線マイクロアナライザー室 | 電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 日本電子 / JSM-7001F | 22号館402室・学内外 |
| X線マイクロアナライザー室 | 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) 日本電子 / JXA-8530F | 22号館402室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅴ | 原子分解能分析電子顕微鏡(FE-TEM) 日本電子 / JEM-ARM200F | 2号館121B室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | ウルトラミクロトーム ライカマイクロシステムズ / Leica EM UC7, FC7 | 2号館909A室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | 局所熱分析装置 日本サーマル・コンサルティング / Nano-TA2，VESTA | 2号館909A室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | 透過型電子顕微鏡(TEM) 日本電子 / JEM-1400Plus | 2号館122B室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅲ | 透過型電子顕微鏡(3D-TEM) 日本電子 / JEM-z2500 | 2号館122B室・学内外 |
| 透過型電子顕微鏡室Ⅱ | 精密イオンポリシングシステム Gatan / PIPS2 Model 695 | 22号館213室・学内外 |