測定室（管理室）	装置・機器 メーカー名 / 型番(形式)	設置場所・公開範囲
FIB-SEM室	走査電子顕微鏡(W-SEM) 日本電子 / JSM-IT200LA	2号館113B室・学内外
RCS-V	走査型電子顕微鏡 日本電子株式会社 / JSM-6010LA	2号館1014B室・学内のみ
走査電子顕微鏡室Ⅲ	低加速電圧型ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡(L-FE-SEM) 日本電子 / JSM-7800F	22号館409室・学内外
X線マイクロアナライザー室	電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM) 日本電子 / JSM-7001F	22号館402室・学内外
X線マイクロアナライザー室	電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(EPMA) 日本電子 / JXA-8530F	22号館402室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅴ	原子分解能分析電子顕微鏡(FE-TEM) 日本電子 / JEM-ARM200F	2号館121B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅳ	透過型電子顕微鏡 日本電子 / JEM-2100	セラ研B棟122・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅲ	透過型電子顕微鏡(3D-TEM) 日本電子 / JEM-z2500	2号館122B室・学内外
透過型電子顕微鏡室Ⅱ	電界放出形透過電子顕微鏡(FE-TEM) 日本電子 / JEM-2100F	22号館214室・学内外